LJZ型双列集成电路老化测试插座

LJZ型双列集成电路老化测试插座

该系列插座适用于DIP封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯
产品型号及规格；
LJZ-8J、14、16、18、24、28、40

主要技术指标；
间距；2.54mm            环境温度；-55℃—+155℃
接触电阻；≤0.01欧     工作电压；DC500V
单脚插入力；≤0.2Kg     弹片金层厚度；1um镍3um金 

主要技术指标；
间距；2.54mm            环境温度；-55℃—+155℃
接触电阻；≤0.01欧      工作电压；DC500V
单脚插入力；≤0.2Kg     弹片金层厚度；1um镍3um金